인텍플러스, 표면 형상 측정 시스템 특허권 취득 공유하기 X 페이스북 트위터 URL복사 복사 2013-08-28 13:04:17 ㅣ 2013-08-28 13:07:37 [뉴스토마토 김영택기자] 인텍플러스(064290)는 28일 표면 형상 측정 시스템(WSI+3D)에 대한 특허권을 취득했다고 공시했다. 이를 통해 인텍플러스는 외관 검사장비의 경쟁력을 강화할 수 있게 됐다. 이 기사는 뉴스토마토 보도준칙 및 윤리강령에 따라 김기성 편집국장이 최종 확인·수정했습니다. ⓒ 맛있는 뉴스토마토, 무단 전재 - 재배포 금지 관련기사 인텍플러스, 입체형 상측정장치 관련 특허 취득 (오늘場일정)5월23일 (오늘場주요일정)중국 5월 PMI 지수 발표 인텍플러스, 입체형상측정장치 특허권 취득 김영택 뉴스북 이 기자의 최신글 0/300 댓글 0 추천순 추천순 최신순 반대순 답글순 필터있음 필터있음필터없음 답댓글 보기3 0/0 댓글 더보기 뉴스리듬 이 시간 주요 뉴스 인기 뉴스 함께 볼만한 뉴스